重塑千禧年代 第780节 (第2/7页)

90nm？

    ——65nm。

    不可能，绝对不可能，哪怕是风险试产都不可能。

    元宵之夜，行业震动！

    第109章 65nm的冰芯

    3月4日，元宵节。

    按照传统，过完这一天才是春节正式的结束。

    然而，按照公历来算，2007年已经过完2个月，整个年度也不知不觉的没了六分之一。

    今年的冰芯格外忙碌，这种状态几乎没有受春节的影响，不少人也是第一次在厂里度过新年。

    但是，以邱慈云、胡正明为首的全体高层都没有休假，又因为知道厂里这次制程工艺的意义，几乎没人抱怨加班安排，都想着越过这道门槛跟着一起吃rou喝汤。

    就在3月3日的上午，冰芯基本已经确定了风险试产的成功，只待最后的良率计算。

    冰芯生产的是一块块晶圆，在经过所有的制造工艺步骤之后会进入良率测试环节。

    晶圆是芯片的载体，这个测试环节是把一块完整的晶圆放入芯片测试机，利用其中芯片测试卡的微针结构与芯片上固定的位点接触，以此完成电信号的输入与读取，达成测试效果。

    只有晶圆上的芯片满足所有的电学信号要求，才认为它通过了电路测试，称之为活芯片，反之便是死芯片。

    一块晶圆在测试完成后会得到一张花花绿绿的测试结果图，除了绿色之外，其它不同的颜色代表芯片不同的死法，比如红色代表某回路漏电流过大，蓝色代表某回路击穿电压过小。